半導(dǎo)體硅粒材料，主要是高純度的硅片，具有優(yōu)良的電學(xué)和機(jī)械性能，是制造集成電路、太陽(yáng)能電池等電子器件的關(guān)鍵材料。這些材料對(duì)溫度、濕度、靜電等環(huán)境因素極為敏感，因此在輸送過(guò)程中需要嚴(yán)格控制條件，避免污染和損壞。

在半導(dǎo)體硅粒材料的輸送過(guò)程中，入料和出料控制是確保生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。為了保證硅粒斗里面的硅粒料在可控的范圍內(nèi)，需要對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)，硅粒料位過(guò)高則進(jìn)行報(bào)警輸出。

應(yīng)用需求：需要檢測(cè)硅粒斗里面的硅粒料有無(wú)在可控范圍內(nèi)，如果硅粒的料位過(guò)高則有報(bào)警輸出。

應(yīng)用挑戰(zhàn)：有的材料是反光材質(zhì)且無(wú)規(guī)則形狀，導(dǎo)致單點(diǎn)激光反光無(wú)法控制。

邦納解決方案：使用K50Z多點(diǎn)測(cè)量傳感器對(duì)硅粒的高低有無(wú)超出進(jìn)行判斷報(bào)警。

方案應(yīng)用

1、將K50Z多點(diǎn)測(cè)量傳感器安裝在斗料機(jī)的側(cè)上方。

2、使用K50Z軟件的自動(dòng)糾正功能減少傾斜安裝帶來(lái)的測(cè)量誤差。 

3、使用K50Z多點(diǎn)測(cè)量傳感器的窗口多點(diǎn)檢測(cè)功能進(jìn)行有效范圍的監(jiān)控。