FORMFACTOR探針卡SmartMatrix 1500XP

SmartMatrix 1500XP 在移動和商用 DRAM、圖形內(nèi)存 (GDDR)、高帶寬內(nèi)存 (HBM) 和新興內(nèi)存設(shè)備上提供 300 毫米全晶圓接觸測試。 該平臺專為支持快速設(shè)計斜坡和產(chǎn)品路線圖而開發(fā)，擴展了經(jīng)過驗證的 Matrix 架構(gòu)，以解決增加的探針卡并行性問題，單次觸地時每個晶圓可多達1536 個站點。它使用 FormFactor 的端接測試儀資源擴展 (TTRE) 技術(shù)在 x16 TRE 共享組信號上支持更快的測試速度/時鐘速率，從 125 MHz 到 200 MHz。 SmartMatrix 1500XP 能夠在 -40°C 至 160°C 范圍內(nèi)測試汽車半導體高溫要求。

SmartMatrix 1500XP 的高性能和較短的交付時間為當今的 DRAM 和存儲設(shè)備實現(xiàn)了產(chǎn)量優(yōu)化和更快的上市時間。

DRAM測試更高的并行度、更高的效率和更低的成本

• 通過使用 ATRE 在一次著陸時同時測試 1500 多個 DUT 來提高吞吐量
• 在不影響信號保真度的情況下將測試速度從 125 MHz 提高到 200 MHz

具有頂部位置和性能的堅固 3D MEMS 彈簧

• 可擴展的 3D MEMS MicroSpring 技術(shù)支持靈活的焊盤布局和接觸性能
• 使接觸墊幾何收縮與技術(shù)節(jié)點過渡到 1x、1y 和 1z nm 節(jié)點一致
• 具有大 3D 彈簧橫截面的載流能力

良好的熱性能和設(shè)計靈活性

• 具有各種 CTE 的全晶圓接觸器基板，針對單溫度和雙溫度設(shè)計進行了優(yōu)化
• 通過在單一溫度設(shè)計上實現(xiàn) 50% 以上的保溫時間減少來提高測試單元效率
• 采用晶圓后技術(shù)的 FormFactor 3D MEMS MicroSpring 可實現(xiàn)汽車要求的 160C 測試

生產(chǎn)正常運行時間長

• 在批量生產(chǎn)環(huán)境中始終實現(xiàn)超過 95% 的正常運行時間

易用性和可維護性

• 使用測試單元上的探針卡進行實時平面度調(diào)整和優(yōu)化功能

• 現(xiàn)場單彈簧維修和探頭更換能力可減少服務(wù)事件的時間損失并提高設(shè)備效率